特許
J-GLOBAL ID：201103053604295106

近赤外分光分析システム

発明者：
東山 尚光

東山 尚光 について


出願人/特許権者：
横河電機株式会社

横河電機株式会社 について


公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-168035
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356590
特許番号：特許第3709966号
出願日： 1999年06月15日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被測定液のスペクトルデータを求め、このスペクトルデータと既存の検量線を用いて前記被測定液に含まれる成分値を連続して測定する赤外分光分析計と、 前記被測定液に含まれる成分を一定時間毎に分析し、クロマトデータを元に分析成分の測定値テーブルを作成するプロセスガスクロマトグラフと、 該プロセスガスクロマトグフで作成された測定値テーブルと、この測定値テーブルを作成する際に採取した時刻に測定された前記スペクトルデータを入力し新検量線を作成するケモメトリックスソフトと、 このケモメトリックスソフトで作成された新検量線で前記赤外分光分析計の既存の検量線を更新し、更新した検量線を用いて前記被測定液の成分値を連続して測定するようにしたことを特徴とする近赤外分光分析システム。
IPC (5件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 30/04 ,  G01N 30/74 ,  G01N 30/86
FI (5件)：
G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 30/04 P ,  G01N 30/74 E ,  G01N 30/86 J
引用特許：
審査官引用 (3件)

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