空間的に部分コヒーレントな光源を有する光学的コヒーレンス干渉計法およびコヒーレンス断層写真法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松田省躬
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-538117
特許番号：特許第4366517号
出願日： 2001年10月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光学的コヒーレンス干渉計法および光学的コヒーレンス断層写真法において、光を反射する対象物の深部位置を測定する際に、2ビーム干渉計の参照アームの光学長を、2ビーム干渉計出力に現れる干渉を介して測定アームの光学長に等化させることにより、短コヒーレンス干渉計法「zスキャン」すなわち深部スキャンを実施するための方法であって、空間的に部分コヒーレントな光源である、横方向のマルチモードレーザ、横方向に振動するスーパールミネッセンス・ダイオード、あるいはガス封入ランプ、アークもしくは白熱電球が利用され、これら一次光源(14,19)の、または結像することによってそれらから導かれる二次光源(20または23)が、測定光ビーム光路を通じて、および参照光ビーム光路を通じて、同一の尺度でかつ合同に2ビーム干渉計出力において光検出器(10)上に結像され、その像(15)によって対象物がスキャンされることを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G01B 9/02 ( 200 6.01) , G01N 21/17 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01B 9/02 , G01N 21/17 620

引用特許：

審査官引用 (4件)

光走査画像取得システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-298684 出願人：オリンパス光学工業株式会社
断層撮影装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-059380 出願人：株式会社生体光情報研究所
光干渉法による測定対象物の屈折率と厚さの同時測定方法及びそのための装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-233863 出願人：科学技術振興事業団

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