特許
J-GLOBAL ID：201103061394235027

フィルタ装置、フィルタリング方法

発明者：
杵築 兼史

杵築 兼史 について


出願人/特許権者：
日本ビクター株式会社

日本ビクター株式会社 について


代理人 (1件)： 福田 康弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-081118
公開番号（公開出願番号）：特開2011-217001
出願日： 2010年03月31日
公開日（公表日）： 2011年10月27日
要約：
【課題】注目画素にノイズ成分が含まれている場合であっても、エッジ部は保持され、平坦部は十分なノイズ除去が行なえるフィルタ装置を提供する。【解決手段】注目画素と複数の周辺画素とで構成される画素ブロックについて、注目画素と各周辺画素との差分を算出し、その絶対値が判定値よりも小さい画素値に基づいて得られた値を注目画素の画素値とするフィルタ装置であって、画素ブロック内に複数のサブエリアを設定し、各サブエリアに含まれる画素の平均値を算出するサブエリア平均算出部と、サブエリア毎の平均値の相互関係に基づいて得られるエッジ評価値を出力するエッジ評価値算出部と、画素ブロック内の各画素の画素値の平均偏差に基づいて得られる平坦部ノイズ評価値を出力する平坦部ノイズ評価値算出部と、エッジ評価値および平坦部ノイズ評価値を用いて判定値を設定する設定部とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
注目画素と複数の周辺画素とで構成される画素ブロックについて、前記注目画素の画素値と各周辺画素の画素値との差分を算出し、その絶対値が判定値よりも小さい周辺画素の画素値に基づいて得られた値を前記注目画素の画素値とするフィルタ装置であって、 前記画素ブロック内に複数のサブエリアを設定し、それぞれのサブエリアに含まれる画素の画素値の平均値を算出するサブエリア平均算出部と、 算出されたサブエリア毎の平均値の相互関係に基づいて得られるエッジ評価値を出力するエッジ評価値算出部と、 前記画素ブロック内の各画素の画素値の平均偏差に基づいて得られる平坦部ノイズ評価値を出力する平坦部ノイズ評価値算出部と、 前記エッジ評価値および前記平坦部ノイズ評価値を用いて前記判定値を設定する設定部と、を備えたことを特徴とするフィルタ装置。
IPC (3件)：
H04N 5/21 ,  H04N 1/409 ,  G06T 5/20
FI (3件)：
H04N5/21 B ,  H04N1/40 101C ,  G06T5/20 C
Fターム (23件)：
5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE02 ,  5B057CE06 ,  5B057DC22 ,  5C021PA31 ,  5C021PA53 ,  5C021PA58 ,  5C021RB07 ,  5C021XA08 ,  5C021XB11 ,  5C021YA01 ,  5C077LL02 ,  5C077LL19 ,  5C077MP07 ,  5C077PP02 ,  5C077PP47 ,  5C077PQ17 ,  5C077PQ18
引用特許：
審査官引用 (7件)
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