特許
J-GLOBAL ID:201103062862194607

探傷方法及び探傷装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 辻居 幸一 ,  熊倉 禎男 ,  大塚 文昭 ,  西島 孝喜 ,  須田 洋之 ,  上杉 浩 ,  岸 慶憲
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-120348
公開番号(公開出願番号):特開2011-247718
出願日: 2010年05月26日
公開日(公表日): 2011年12月08日
要約:
【課題】パルスフェイズサーモグラフィ法において、深い位置にある欠陥を検出することを目的とする。【解決手段】対象物の表面をパルス加熱することと、温度検出手段によって設定時間において、設定されたサンプリング周波数で、加熱後の前記検査対象物の複数の部分の表面温度を検出することと、加熱してからの経過時間と表面温度との関係を示すデータに対してフーリエ変換を行い、周波数と位相との関係を示すデータに変換することと、設定された検査周波数における位相値を画像として表示することとを含み、前記温度検出ステップは、前記検査周波数を低くするために、前記設定時間を長くすること及び/又は前記サンプリング周波数を低くすることを含み、前記表示することは、前記検査周波数を低くすることによって、正常部における位相値と欠陥部における位相値との差を視認できるよう表示することを含む探傷方法を提供するものである。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物の表面をパルス加熱する加熱ステップと、 温度検出手段によって、設定時間において、設定されたサンプリング周波数で、加熱後の前記検査対象物の複数の部分の表面温度を検出する温度検出ステップと、 加熱してからの経過時間と表面温度との関係を示すデータに対してフーリエ変換を行い、周波数と位相との関係を示すデータに変換するデータ処理ステップと、 設定された検査周波数における位相値を画像として表示する表示ステップとを含み、 前記温度検出ステップは、前記検査周波数を低くするために、前記設定時間を長くするステップ、及び/又は、前記サンプリング周波数を低くするステップを含み、 前記表示ステップは、前記検査周波数を低くすることによって、正常部における位相値と欠陥部における位相値との差を視認できるよう表示するステップを含むことを特徴とする探傷方法。
IPC (1件):
G01N 25/72
FI (1件):
G01N25/72 Y
Fターム (6件):
2G040AA05 ,  2G040CA02 ,  2G040DA06 ,  2G040DA12 ,  2G040EC02 ,  2G040HA06
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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