特許
J-GLOBAL ID:201103063258914649
赤外線検出器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
横山 淳一
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-217444
公開番号(公開出願番号):特開2001-044486
特許番号:特許第4182596号
出願日: 1999年07月30日
公開日(公表日): 2001年02月16日
請求項(抜粋):
【請求項1】多重量子井戸層内での電子のサブバンド間遷移を利用し、2波長域で赤外線を検出する赤外線検出器であって、
該多重量子井戸層は、第1の障壁層、第1の井戸層、第2の障壁層、第2の井戸層、第3の障壁層及び第3の井戸層を順に積層したものを単位構造層として該単位構造層を繰り返し積層したものから成り、
該第2の井戸層には不純物がドープされ、
該第1の井戸層及び該第3の井戸層は該第2の井戸層より狭く且つ互いに異なる幅を有し、
該第2の障壁層及び該第3の障壁層は電子の共鳴トンネル現象が起こる程度の幅を有していることを特徴とする赤外線検出器。
IPC (2件):
H01L 31/10 ( 200 6.01)
, H01L 31/0264 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01L 31/10 A
, H01L 31/08 L
引用特許:
出願人引用 (12件)
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特開昭63-044776
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特開昭63-246626
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特開平1-129475
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特開平2-119271
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特開平2-184083
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特開平2-231777
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特開平2-292832
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特開平3-248479
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光・電子デバイスを有する装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-118454
出願人:アメリカンテレフオンアンドテレグラフカムパニー
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量子化Si光半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-341290
出願人:富士通株式会社
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半導体量子ドット装置及びその使用方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-268176
出願人:富士通株式会社
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光学装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-273727
出願人:株式会社東芝
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