質量分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小林良平
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-196856
公開番号（公開出願番号）：特開2000-149865
特許番号：特許第3379485号
出願日： 1999年07月12日
公開日（公表日）： 2000年05月30日
請求項（抜粋）：

【請求項1】イオンを収束するためのイオンレンズを備えた質量分析装置において、該イオンレンズは、イオン光軸方向に延伸し、該イオン光軸の周囲に互いに分離して配設された偶数個の仮想的ポール状電極から成り、該仮想的ポール状電極は、イオン光軸方向に互いに分離された複数の金属電極板を含んで成り、該複数の金属電極板に高周波電圧と直流電圧とを重畳した電圧を印加し、その複数の金属電極板のうち、最後尾又は最後尾近傍の少数枚の電極板への印加電圧の直流電圧成分を、そのイオンレンズを通過させるイオンの質量数に応じて変化させることを特徴とする質量分析装置。

IPC (3件)：