特許
J-GLOBAL ID：201103069058791451
レーザ測定装置及び方法
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
光石 俊郎
, 光石 忠敬
, 田中 康幸
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-313494
公開番号（公開出願番号）：特開2003-121417
特許番号：特許第3605385号
出願日： 2001年10月11日
公開日（公表日）： 2003年04月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】採取試料を真空チャンバー内へ連続的に導入する試料導入手段と、導入された試料にレーザを照射し、レーザイオン化させるレーザ照射手段と、レーザイオン化した分子を収束させる収束部と、該収束された分子を選択濃縮するイオントラップと、一定周期で放出されたイオンを検出するイオン検出器を備えた飛行時間型質量分析装置とを具備してなるレーザ測定装置であって、上記レーザ照射手段から照射されたパルス幅が一定のレーザ光を、1枚又は複数枚積層された反射板における1枚又は各反射板の反射面で反射させることによって、複数のパルス列を形成し、上記レーザ光のパルス幅を任意に擬似的に拡大することを特徴とするレーザ測定装置。
IPC (4件)：
G01N 27/64
, G01N 27/62
, H01J 49/10
, H01J 49/40
G01N 27/64 B
, G01N 27/62 F
, G01N 27/62 K
, G01N 27/62 ZAB V
, H01J 49/10
, H01J 49/40
