特許
J-GLOBAL ID：201103069799238393

塗膜劣化診断方法及び装置

発明者：
山崎 康一

山崎 康一 について


出願人/特許権者：
株式会社IHI

株式会社IHI について


代理人 (2件)： 山田 恒光 ,  大塚 誠一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-003560
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194483
特許番号：特許第4379996号
出願日： 2000年01月12日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 塗膜面に生じたブリスタを観察して塗膜の劣化状態を診断するようにしている塗膜劣化診断方法であって、塗膜面に対して90 ゚より小さい傾斜した角度で光を塗膜面に向け投射することによりブリスタによる影を塗膜面に生じさせ、ブリスタによってできた影の模様を、塗膜面に対して垂直方向からカメラにより撮影し、撮影した画像を画像処理してその画像処理結果により塗膜の劣化状態を診断することを特徴とする塗膜劣化診断方法。
IPC (7件)：
G21C 17/013 ( 200 6.01) ,  B05C 11/00 ( 200 6.01) ,  B05D 3/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/88 ( 200 6.01) ,  G21C 9/004 ( 200 6.01) ,  G21C 13/00 ( 200 6.01) ,  G21C 17/003 ( 200 6.01)
FI (7件)：
G21C 17/00 H ,  B05C 11/00 ,  B05D 3/00 D ,  G01N 21/88 Z ,  G21C 9/00 GDB A ,  G21C 13/00 R ,  G21C 17/00 E
引用特許：
審査官引用 (11件)
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