特許
J-GLOBAL ID:201103070385272474

逐次2点法による形状精度測定装置および逐次2点法による形状精度測定用レーザ変位計間隔測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 杉村 憲司 ,  杉村 興作 ,  来間 清志 ,  藤谷 史朗 ,  澤田 達也
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-339793
公開番号(公開出願番号):特開2001-157951
特許番号:特許第4571256号
出願日: 1999年11月30日
公開日(公表日): 2001年06月12日
請求項(抜粋):
【請求項1】 形状精度の測定対象(1c)に対して設定した測定線の延在方向に概略沿って二つのレーザ変位計(4, 5)を一定間隔をあけて整列させるとともにそれら二つのレーザ変位計を前記測定対象から概略等距離離間させてその測定対象に向けて保持する変位計保持部材(3)と、前記変位計保持部材を前記測定対象に対し前記測定線の延在方向へ相対移動させるとともに前記二つのレーザ変位計の整列方向へ相対移動させる保持部材相対移動手段(1a)と、前記測定対象に照射される前記二つのレーザ変位計からのレーザビームの位置を前記変位計保持部材の相対移動に伴って順次に検出する二次元光センサ(2)と、前記測定対象に対する前記変位計保持部材の前記測定線に沿う相対移動に伴って、前記測定対象における前記二つのレーザ変位計のうちの一方のレーザ変位計からのレーザビームが前記二次元光センサ上に照射される位置から他方のレーザ変位計からのレーザビームが前記二次元光センサ上に照射される位置までの前記変位計保持部材の相対移動量と、前記二つのレーザ変位計からのレーザビームの前記二次元光センサ上での照射位置とから前記二つのレーザ変位計の間隔と整列方向とを求め、前記測定対象に対する前記変位計保持部材の前記二つのレーザ変位計の整列方向への相対移動に伴って前記二つのレーザ変位計の間隔に等しい距離だけ前記変位計保持部材が相対移動する毎に前記二つのレーザ変位計の出力信号を取り込み、それらの出力信号を逐次2点法に基づいて演算処理して前記測定対象の真直誤差曲線を求める演算処理手段(1b)と、を具えることを特徴とする、逐次2点法による形状精度測定装置。
IPC (2件):
B23Q 17/24 ( 200 6.01) ,  G01B 11/24 ( 200 6.01)
FI (2件):
B23Q 17/24 Z ,  G01B 11/24
引用特許:
出願人引用 (5件)
  • 真直度測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-295830   出願人:日立造船株式会社
  • 遠隔計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-258455   出願人:財団法人電力中央研究所
  • 路面凹凸計測車
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-029056   出願人:佐藤壽芳, 日瀝化学工業株式会社, 株式会社小松製作所
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審査官引用 (5件)
  • 真直度測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-295830   出願人:日立造船株式会社
  • 遠隔計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-258455   出願人:財団法人電力中央研究所
  • 路面凹凸計測車
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-029056   出願人:佐藤壽芳, 日瀝化学工業株式会社, 株式会社小松製作所
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