特許
J-GLOBAL ID：201103071470025644
半導体集積回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
玉村 静世
, 小川 勝男
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-061157
公開番号（公開出願番号）：特開2000-258500
特許番号：特許第4283369号
出願日： 1999年03月09日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 シフトスキャン方式で設計された半導体集積回路であって、
少なくとも2つのテストデータ入力端子と、
前記テストデータ入力端子よりも数の多い複数のスキャンチェーンと、
選択された1つの前記スキャンチェーンにデータを供給するために、前記少なくとも2つのテストデータ入力端子を選択的に結線し、第1のテストモードと第2のテストモードの両方において、前記少なくとも2つのテストデータ入力端子の各々を、選択された1つの前記スキャンチェーンに結線する結線変更回路と、を有し、
前記第1のテストモードにおいて前記少なくとも2つのテストデータ入力端子の各々が結線されるスキャンチェーンの組は、前記第2のテストモードにおいて少なくとも2つの入力端子の各々が結線されるスキャンチェーンの組と異なる半導体集積回路。
IPC (2件)：
G01R 31/28 ( 200 6.01)
, G06F 11/22 ( 200 6.01)
G01R 31/28 G
, G06F 11/22 360 U
