特許
J-GLOBAL ID：201103072603743150
欠陥検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小島 俊郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-320472
公開番号（公開出願番号）：特開2001-141659
特許番号：特許第3810599号
出願日： 1999年11月11日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】不可視光光源と撮像手段と表示装置とからなる画像撮像装置及び画像処理手段とを有する欠陥検査装置であって、
前記撮像手段は、光軸が積層型電子写真感光体の法線に対して僅かに傾けて配置され、前記不可視光光源は光軸が積層型電子写真感光体の表面において撮像手段の光軸と30度〜60度の角度で交差するように配置され、
前記不可視光光源は近赤外線を積層型電子写真感光体の表面に照射し、撮像手段は積層型電子写真感光体の内部層で拡散反射した拡散反射成分のうち入射点における法線近傍の拡散反射近傍光と積層型電子写真感光体の透明表面層の表面からの散乱反射光を受光して光電変換して積層型電子写真感光体の内部層の不可視欠陥と透明表面層の凸凹欠陥を示す欠陥画像信号を前記画像処理手段に出力し、
前記画像処理手段は、前記撮像手段から出力される欠陥画像信号の情報から欠陥の候補領域である特異領域を抽出し、特異領域の情報をフラクタル解析して画像の濃度変化から感光体内部層の濃淡ムラの不可視欠陥と透明表面層の凸凹欠陥を判定し、
前記表示装置は前記画像処理手段で判定した欠陥画像を表示することを特徴とする欠陥検出装置。
IPC (2件)：
G01N 21/952 ( 200 6.01)
, G03G 5/00 ( 200 6.01)
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (11件)
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