特許
J-GLOBAL ID:201103073621866525
層間絶縁膜、その形成方法及び配線の形成方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (8件):
前田 弘
, 小山 廣毅
, 竹内 宏
, 嶋田 高久
, 竹内 祐二
, 今江 克実
, 手島 勝
, 藤田 篤史
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-070745
公開番号(公開出願番号):特開2001-332543
特許番号:特許第3578722号
出願日: 2001年03月13日
公開日(公表日): 2001年11月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】3次元構造を有する第1の架橋分子と2次元構造を有する第2の架橋分子とが重合することにより形成され、内部に分子レベルの多数の空孔を有するアダマンタン骨格を含む3次元重合高分子からなることを特徴とする層間絶縁膜。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許: