特許
J-GLOBAL ID:201103074608312177

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 筒井 大和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-252595
公開番号(公開出願番号):特開2011-099681
出願日: 2009年11月04日
公開日(公表日): 2011年05月19日
要約:
【課題】共通の試薬分注機構を用いつつ、安定した試薬昇温と分注精度の管理との双方を可能にした自動分析装置を提供する。【解決手段】試薬は、昇温が必要な項目の測定時に、試薬分注機構300により、対応する試薬ディスクの試薬容器から吸引後、恒温槽として機能する昇温が不要な項目の反応を行う第1の反応部100の反応容器(試薬昇温が不要な項目用の反応容器)106へ一旦吐出する。第1の反応部100で目的温度に昇温させてから、再度吸引して昇温が必要な項目の反応を行う第2の反応部200の反応容器(試薬昇温が必要な項目用の反応容器)206に吐出する。これにより、試薬の量に影響されずに再現性良く昇温できるとともに、試薬昇温が不要な項目の測定時には、試薬分注機構300において試薬を昇温させないようにすれば、微量分注の精度管理が容易になる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
試薬昇温が必要な項目とそれが不要な項目との測定が可能な自動分析装置であって、恒温槽として機能するとともに前記試薬昇温が不要な項目用の反応容器が配置される第1の反応部と、前記試薬昇温が必要な項目用の反応容器が配置される第2の反応部と、試薬分注機構とを備え、 前記試薬分注機構は、前記試薬昇温が必要な項目の測定時には、試薬を吸引後に前記第1の反応部の前記反応容器へ一旦吐出し、所定の温度に昇温させた後、再び吸引して前記第2の反応部の前記反応容器へ吐出することを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件):
G01N 35/10 ,  G01N 35/00
FI (2件):
G01N35/06 K ,  G01N35/00 B
Fターム (3件):
2G058BB15 ,  2G058ED14 ,  2G058GA01
引用特許:
審査官引用 (4件)
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