特許
J-GLOBAL ID:201103074713906597
ビット誤り測定器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
中尾 直樹
, 中村 幸雄
, 草野 卓
, 稲垣 稔
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-285169
公開番号(公開出願番号):特開2001-111531
特許番号:特許第4422251号
出願日: 1999年10月06日
公開日(公表日): 2001年04月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】 入力データと基準データとを照合手段で照合して入力データのビット誤りを検出するビット誤り測定器において、
上記入力データと同期した基準データとそのビット位置情報を出力する第1基準データ発生部と、
上記入力データと基準データとを照合して不一致データを出力する照合部と、
入力した上記不一致データとビット位置情報を対応させて記録する誤りビット位置記録部と、
上記誤りビット位置記録部から読み出した情報を処理して処理した情報を表示部に出力するデータ処理部と、
上記データ処理部で処理された情報を表示する表示部とを具備し、
上記データ処理部は、
上記第1基準データ発生部と同様の基準データとそのビット位置情報を出力する第2基準データ発生部と、
上記第2基準データ発生部からのビット位置情報と上記誤り位置記録部からの誤りビット位置情報とを照合して不一致の情報を出力する一致検出部と、
上記誤り位置記録部からの誤りビット位置情報の入力回数を計数する誤りビット計数部と、
処理されたデータから表示パターンを生成する表示パターン生成部とを具備し、
上記表示部のパターン表示部と代表ビット位置表示部と誤り数表示部に、それぞれ連続する複数のビットからなる部分データ毎に上記基準データと代表ビット位置とビット誤り数が表示されるように、上記誤りビット位置記録部から読み出したデータと情報の処理をすることを特徴とするビット誤り測定器。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
審査官引用 (10件)
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ビット誤り測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-201743
出願人:アンリツ株式会社
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誤り検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-102956
出願人:株式会社アドバンテスト
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誤り率測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-191566
出願人:日本電信電話株式会社
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ビット誤り測定器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-036527
出願人:株式会社アドバンテスト
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特開昭53-115254
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光信号モニタ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-172549
出願人:日立電線株式会社
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特開平2-142247
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特開昭55-078656
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特開昭56-073938
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特開昭53-115254
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