特許

J-GLOBAL ID：201103077535900988

LCDパネル促進テスト方法およびそのための構造物

発明者： 巫 吉 原
出願人/特許権者： 財団法人工業技術研究院
代理人 (5件)： 八田 幹雄 ,  野上 敦 ,  奈良 泰男 ,  齋藤 悦子 ,  宇谷 勝幸
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-261461
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071764
特許番号：特許第3553864号
出願日： 2000年08月30日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
請求項（抜粋）：

【請求項1】LCDパネル促進テスト用の促進テストパネルを製造する方法であって、該促進テストパネルが促進テストを行うためにLCDパネルの電極ターミナルにある複数のインプット電極と接触できる複数のテスト電極を有し、基板上に金属層を形成し、金属層をパターン化して通常の金属回路パターンを形成し、前記金属層および基板層上に絶縁層を形成し、絶縁層をパターン化して適切な接触ウインドウを露光し、フォトレジスト層を前記絶縁層および前記金属層上に形成し、フォトレジスト層をパターン化して複数のテスト電極を形成するために領域を露光し、感光性ポリイミド(PSPI)層を前記フォトレジスト層、絶縁層および金属層上に形成し、PSPI層をパターン化して複数のテスト電極を形成するためにかかる領域の金属部分を露光し、複数のテスト電極を前記露光金属部分に形成し、さらにフォトレジスト層を除去することを特徴とする促進テストパネルの製造方法。

IPC (6件)：

G01R 31/30 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  G09F 9/00

FI (6件)：

G01R 31/30 ,  G01R 1/073 F ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  G09F 9/00 352

引用特許：

審査官引用 (3件)

• コンタクトプローブ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-225022   出願人：三菱マテリアル株式会社
• プローブユニットとその製法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-164701   出願人：山一電機株式会社, 九州日東精工株式会社, 日東公進株式会社
• 液晶駆動用集積回路およびそのテスト方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-013997   出願人：東芝マイクロエレクトロニクス株式会社, 株式会社東芝