半導体部品収納トレイおよびその再利用判別方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：佐藤一雄 , 橘谷英俊 , 佐藤泰和 , 川崎康
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-374006
公開番号（公開出願番号）：特開2001-180782
特許番号：特許第3998383号
出願日： 1999年12月28日
公開日（公表日）： 2001年07月03日
請求項（抜粋）：

【請求項1】半導体部品を収納可能な複数のポケットが形成された半導体部品収納トレイにおいて、前記半導体部品収納トレイの強度劣化を測定するための複数の強度劣化測定部を備え、前記強度劣化測定部内に孔を開けるのに要した破断力の測定結果と、破断力の測定回数とに基づいて、前記半導体部品収納トレイが所定の強度を保有しているか否か、あるいは利用時の強度が所定の強度を有するか否かを判断することを特徴とする半導体部品収納トレイ。

IPC (2件)：