特許
J-GLOBAL ID：201103078341286533
X線コンピュータ断層撮影装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
, 河野 哲
, 中村 誠
, 河井 将次
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-006452
公開番号（公開出願番号）：特開2000-201919
特許番号：特許第4398526号
出願日： 1999年01月13日
公開日（公表日）： 2000年07月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 X線を発生するX線発生手段と、
スライス方向の可変開口を有し、これにより前記X線発生手段から発生されたX線のスライス方向のビーム幅を規定するコリメータと、
前記スライス方向に沿った関心画像の位置又はスライス厚を指定する指定手段と、
前記指定手段による指定内容に基づいて非関心画像の位置又はスライス厚を算出する算出手段と、
前記コリメータの開口幅を制御する制御手段と、
複数の検出チャンネルを有する検出素子列をスライス方向に複数列配した2次元検出器であって、被検体を透過した透過X線を検出する検出手段と、
前記関心画像については前記検出手段の複数の検出素子列からのデータを第1の束数で束ね、前記非関心画像については前記検出手段の複数の検出素子列からのデータを前記第1の束数よりも小さい第2の束数で束ねる手段と、
前記検出手段からの検出信号に基づき、スキャン時間に要する時間よりも短い時間で前記関心画像及び非関心画像を再構成する再構成手段と、
を具備し、
前記制御手段は、前記指定手段により指定された関心画像及び前記算出手段により算出された非関心画像が含まれるように前記コリメータの開口幅を制御することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
A61B 6/03 321 Q
, A61B 6/03 320 K
