特許
J-GLOBAL ID：201103083565457442
粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
西村 竜平
, 佐藤 明子
, 齊藤 真大
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-042315
公開番号（公開出願番号）：特開2011-179876
出願日： 2010年02月26日
公開日（公表日）： 2011年09月15日
要約：
【課題】個々の試料に対する最適な測定条件を定めるため、その測定条件の評価を容易にする。【解決手段】試料の粒度分布測定を行う装置本体と、オペレータからの入力を受け付けて装置本体の駆動制御を行うとともに、装置本体からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器とを備えた粒度分布測定装置であり、インタフェース機器が、粒度分布測定を行うために設定すべき操作パラメータの値と、操作パラメータの各値に対応した装置本体の測定結果を用いて得られた評価パラメータの値との関係をグラフ表示する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料の粒度分布測定を行う装置本体と、オペレータからの入力を受け付けて前記装置本体の駆動制御を行うとともに、当該装置本体からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器とを備えた粒度分布測定装置であって、
前記インタフェース機器が、粒度分布測定を行うために設定すべき操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した、前記装置本体の測定結果を用いて得られた評価パラメータの値との関係をグラフ表示することを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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