特許
J-GLOBAL ID:201103088754192133

FRET測定方法及びFRET測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): グローバル・アイピー東京特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-110383
公開番号(公開出願番号):特開2011-237342
出願日: 2010年05月12日
公開日(公表日): 2011年11月24日
要約:
【課題】解離定数Kdの大きさによらず、解離定数Kdを精度よく求めることができるFRET測定技術を提供する。【解決手段】レセプターとリガンドが結合し、第1分子及び第2分子が設けられた測定サンプルにレーザ光を照射し、第1分子から第2分子へエネルギーが移動するFRETを測定するFRET測定方法であって、レーザ光を測定サンプルに照射するステップと、測定サンプルが発する蛍光を計測するステップと、第1分子の蛍光寿命を算出するステップと、結合比率を算出するステップと、測定サンプルの結合条件を設定するステップと、解離定数を算出するステップと、を有し、解離定数を算出するステップは、最小二乗法を用いて、測定サンプル中のレセプターの全濃度と解離定数とを変数とする関数を、結合比率算出ステップで算出された結合比率にフィッティングすることにより、解離定数を求める。【選択図】図6
請求項(抜粋):
レセプターとリガンドが結合し、第1分子及び第2分子が設けられた測定サンプルにレーザ光を照射し、第1分子から第2分子へエネルギーが移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer)を測定するFRET測定方法であって、 強度が時間変調されたレーザ光を前記測定サンプルに照射する照射ステップと、 前記レーザ光を照射された前記測定サンプルが発する蛍光を計測する計測ステップと、 前記計測ステップで計測された蛍光信号を用いて、第1分子の蛍光寿命を算出する蛍光寿命算出ステップと、 前記蛍光寿命算出ステップで算出された前記蛍光寿命を用いて、前記測定サンプルに含まれる前記レセプターのうちFRETが発生しているレセプターの比率である結合比率を算出する結合比率算出ステップと、 前記結合比率が異なるように、前記測定サンプルの結合条件を設定する結合条件設定ステップと、 前記レセプターと前記リガンドとの結合の度合いを示す解離定数を算出する解離定数算出ステップと、を有し、 前記解離定数算出ステップは、最小二乗法を用いて、前記測定サンプル中の前記レセプターの全濃度と前記解離定数とを変数とする関数を、前記結合比率算出ステップで算出された前記結合比率にフィッティングすることにより、前記解離定数を求めることを特徴とするFRET測定方法。
IPC (2件):
G01N 21/64 ,  G01N 33/533
FI (3件):
G01N21/64 B ,  G01N21/64 F ,  G01N33/533
Fターム (16件):
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G043NA06
引用特許:
審査官引用 (7件)
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引用文献:
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