連続物体の欠陥検出用信号処理装置

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高野茂
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-023911
公開番号（公開出願番号）：特開2000-222570
特許番号：特許第3358575号
出願日： 1999年02月01日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 1次元の視野を有する撮像装置を用いて検出された映像信号に、少なくともシェーディング処理を含む信号処理を施すことにより、連続物体の欠陥を検出するための信号を出力する連続物体の欠陥検出用信号処理装置において、連続物体の幅方向の画像を検出し映像信号に変換する1次元撮像装置と、この映像信号から前記連続物体のエッジを検出するエッジ検出手段と、前記エッジの位置から所定の位置までのゲインを、板幅の中央の部分のゲインより小さな異なる値に設定するゲイン設定手段と、を備えていることを特徴とする連続物体の欠陥検出用信号処理装置。

IPC (3件)：