特許
J-GLOBAL ID：201103093138308458

画面検査方法

発明者：
湯川 典昭

湯川 典昭 について

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石井 彰一

石井 彰一 について

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小林 弘太郎

小林 弘太郎 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-275805
公開番号（公開出願番号）：特開2001-101413
特許番号：特許第3604974号
出願日： 1999年09月29日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】画面を撮像して得られた濃淡画像に対し、検査対象とする注目画素と比較画素との濃度階調を比較する濃淡異常検出を、前記注目画素を変更しながら行うのに際し、前記比較画素は前記注目画素を中心に対称、かつ前記注目画素に隣接しないだけの画素N離れて2個以上存在し、前記注目画素から濃淡画像の周縁画素までの最短距離が前記画素N以上である領域を中央領域、濃淡画像上で中央領域以外を周辺領域とし、前記中央領域に対しては、前記画素Nを固定して濃淡異常を検出し、前記周辺領域に対しては、前記注目画素と前記周縁画素との距離が前記画素N未満となる場合に、前記画素N未満となった注目画素と前記比較画素とを結ぶ画素列上の比較画素を比較画素Aとし、この比較画素Aと注目画素に関して対称に存在する比較画素を比較画素Bとして、前記比較画素Aおよび前記比較画素Bと前記注目画素との間の画素を画素N未満の画素N′として濃淡異常を検出することを特徴とする画面検査方法。
IPC (2件)：
G06T 1/00 ,  H04N 17/04
FI (2件)：
G06T 1/00 300 ,  H04N 17/04 A
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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