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J-GLOBAL ID：201202233330617006   整理番号：12A0063229

スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法

Improvement of Test Data Compression Rate for Chiba-Scan Testing by Reconstructing Scan Chain

著者 (3件)： 赤川慎人 (千葉大 大学院融合科学研究科) ,  難波一輝 (千葉大 大学院融合科学研究科) ,  伊藤秀男 (千葉大 大学院融合科学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 111  号： 324(VLD2011 52-90)  ページ： 121-126  発行年： 2011年11月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の1種にスキャン設計がある。このスキャン設計の1つとして千葉大スキャンが提案された。千葉大スキャンはスタンダードスキャンと同じくらいの面積オーバヘッドで実装でき,100%のロバストまたはノンロバストパス遅延故障検出率を実現した手法である。しかし,特殊なテスト手順を必要とするため,テストパターンが増加する問題点がある。さらに,その特殊なテスト手順のために,既存のテストデータ圧縮手法の圧縮率もスタンダードスキャン等の場合に比べ低くなる。そこで,本研究ではスキャンチェーンを再構成することで,既存テストデータ圧縮手法の千葉大スキャンに対する圧縮率を向上させる手法を提案する。本手法では,圧縮作業以前にスキャンチェーンを再構成することで圧縮効率を向上させている。これによりスキャンチェーンを再構成しなかった場合と比較して平均で29.5%の圧縮率向上を得ている。(著者抄録)

シソーラス用語： *回路設計 ,  故障 ,  *回路試験 ,  *データ圧縮
準シソーラス用語： *スキャンテスト ,  *スキャン設計 ,  テスト容易化設計 ,  遅延故障

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： スキャン ,  チェーン ,  再構成 ,  テストデータ圧縮 ,  手法