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J-GLOBAL ID：201202256586249829   整理番号：12A0599590

低軟X線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定

Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector

著者 (6件)： 与儀千尋 (立命館大 SRセ) ,  石井秀司 (立命館大 SRセ) ,  中西康次 (立命館大 SRセ) ,  渡辺巌 (立命館大 SRセ) ,  小島一男 (立命館大 生命科学) ,  太田俊明 (立命館大 SRセ)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 43  ページ： 147-152  発行年： 2012年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 低軟X線領域におけるX線吸収端微細構造(XAFS)スペクトル測定は電子収量法や蛍光収量法が検出法として用いられ,それぞれ表面およびバルク敏感な検出法として重要な役割を果たす。しかし,これまでのマイクロチャンネルプレート(MCP)を用いた蛍光収量モードでは質の良いXAFSスペクトルを測定することが困難であった。そこで我々は高精度な部分蛍光収量(PFY)XAFSを行うため,素子面積が80mm²のウインドウレスのシリコンドリフト検出器(SDD)に透過性のよい0.1μm厚のポリパラキシレン(Parylene-N)をウインドウとした高検出効率の低軟X線蛍光検出器を開発した。これにより,従来のMCPによる蛍光収量XAFSと比較すると,S/B比,S/N比共に飛躍的に向上することが示された。さらに,表面敏感な全電子収量(TEY)および部分電子収量(PEY)XAFSの同時測定システムを構築し,表面近傍の深さ方向のXAFS分析を行うことに成功した。本報では,リチウムイオン二次電池の正極であるLiCoO₂およびLiMn₂O₄を例に本システムを用いたXAFS測定結果について示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *軟X線 ,  *XAFS ,  *放射線検出器 ,  *ドリフトチェンバ ,  *大口径 ,  *検出法 ,  マイクロチャネルプレート ,  ポリキシリレン ,  窓 ,  検出効率 ,  SN比 ,  同時計測 ,  表層構造 ,  深さ分析 ,  リチウムイオン電池 ,  アノード ,  マンガン酸塩 ,  リチウム化合物 ,  コバルト酸塩
準シソーラス用語： コバルト酸リチウム ,  *シリコン検出器 ,  パリレンN ,  マンガン酸リチウム ,  蛍光収量法 ,  正極 ,  電子収量法 ,  部分蛍光収量法 ,  部分電子収量法

分類 (4件)： 一般・無機化合物のX線スペクトル(分子)  (BH06051G) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  二次電池  (YB04030K)

引用文献 (4件)：

• 1) J.Stöhr:“NEXAFS Spectroscopy”(1992), (Springer-Verlag, Berlin).
• 2) H.Kobayashi, M.Shikano, S.Koike, H.Sakaebe, K. Tatsumi: J. Power Sources, 174, 380 (2007).
• 3) 中西康次, 八木伸也, 太田俊明:電気学会論文誌, C130, 1762(2010).
• 4) K.Nakanishi, T.Ohta:“In Mesurement System / Book 2, InTech.”ISBN: 979-953-307-479-4, Croatia (in press).

タイトルに関連する用語 (4件)： 軟X線 ,  大口径 ,  シリコンドリフト検出器 ,  XAFS