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J-GLOBAL ID：201202268903660260   整理番号：12A0962141

機能元素が拓く新しいセラミックス材料の世界 ABF STEM法を用いた材料界面研究

著者 (1件)： 柴田直哉 (Univ. Tokyo)
資料名： セラミックス  (Bulletin of the Ceramic Society of Japan)
巻： 47  号： 7  ページ： 485-488  発行年： 2012年07月01日 
JST資料番号： S0291A  ISSN： 0009-031X  CODEN： SERAA7  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査型透過電子顕微鏡(STEM)法では,高角度環状暗視野(HAADF)法が一般的に用いられているが,軽元素原子カラムの観察は困難である。近年,HAADFとは異なる検出器ジオメトリを有する環状明視野(ABF)法の利用により,材料中の水素原子までもが直接観察できる時代が到来しつつある。本稿では,このABF STEM法の特徴,像形成メカニズム,およびセラミック材料界面構造解析への応用例について解説した。1)ABF STEM法の特徴:HAADF STEM法との比較,ABF STEM観察例(TiO₂,SrTiO₃),像コントラストの原子番号依存性,2)セラミック界面研究への応用例:Al₂O₃Σ=13,CeO₂Σ=5。

シソーラス用語： *セラミック ,  機能性セラミック ,  ナノ構造 ,  界面 ,  *微細構造 ,  結晶構造 ,  原子構造 ,  構造解析 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  表面構造 ,  視野 ,  像形成 ,  コントラスト ,  分解能 ,  原子番号 ,  元素 ,  結晶粒界 ,  酸化チタン ,  チタン酸ストロンチウム ,  アルミナ ,  酸化セリウム
準シソーラス用語： ABF-STEM ,  HAADF-STEM ,  ナノセラミック ,  界面構造 ,  軽元素 ,  明視野

分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

引用文献 (13件)：

• PENNYCOOK, S. J. Advances in Imaging and Electron Physics. 2002, 123, 173-204
• 柴田直哉. セラミックス. 2005, 40, 914
• FINDLAY, S. D. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 191913
• FINDLAY, S. D. Ultramicroscopy. 2010, 110, 903
• 柴田直哉. 顕微鏡. 2011, 46, 55

タイトルに関連する用語 (6件)： 元素 ,  セラミックス材料 ,  世界 ,  STEM ,  界面 ,  研究