特許
J-GLOBAL ID：201203014277930465
マイクロアレイの解析方法および読取り装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-205865
公開番号（公開出願番号）：特開2012-168159
出願日： 2011年09月21日
公開日（公表日）： 2012年09月06日
要約：
【課題】ポジティブコントロールを配置していないDNAチップの解析においても、もしくは、サンプルに含まれるDNA量が少ないチップの解析においても、アライメント処理を適切に行うことが可能な解析方法および装置を提供する。【解決手段】 凹凸形状を有する基板表面にプローブが配置されたマイクロアレイに励起光を照射し、励起光で励起された各プローブからの蛍光量を数値データとして得るマイクロアレイの解析方法であって、プローブの蛍光量を測定して蛍光画像データを取得するステップ(a)と、基板表面からの反射光及び/又は散乱光を受光して、該光の受光強度からマイクロアレイの基板表面の凹凸形状をアライメント用画像データとして取得するステップ(b)と、前記アライメント用画像データに基づいて前記蛍光画像データにおける各プローブの位置を決定するステップ(c)と、を含む、マイクロアレイの解析方法とする。【選択図】図8
請求項（抜粋）：
凹凸形状を有する基板表面にプローブが配置されたマイクロアレイに励起光を照射し、励起光で励起された各プローブからの蛍光量を数値データとして得るマイクロアレイの解析方法であって、プローブの蛍光量を測定して蛍光画像データを取得するステップ(a)と、基板表面からの反射光及び/又は散乱光を受光して、該光の受光強度からマイクロアレイの基板表面の凹凸形状をアライメント用画像データとして取得するステップ(b)と、前記アライメント用画像データに基づいて前記蛍光画像データにおける各プローブの位置を決定するステップ(c)と、を含む、マイクロアレイの解析方法。
IPC (4件)：
G01N 21/64
, G01N 33/53
, G01N 37/00
, C12M 1/34
G01N21/64 Z
, G01N33/53 M
, G01N37/00 102
, G01N21/64 F
, C12M1/34 Z
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043LA01
, 4B029AA07
, 4B029BB20
, 4B029FA12
, 4B029FA15
