特許
J-GLOBAL ID：201203024682361074

画像形成装置および画像形成装置の制御方法

発明者：
阿部 泰裕

阿部 泰裕 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-158301
公開番号（公開出願番号）：特開2012-022054
出願日： 2010年07月12日
公開日（公表日）： 2012年02月02日
要約：
【課題】画像形成と並行して形成されたテストパターンによる画質調整をより効率的に行う。【解決手段】時間Qを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Q1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Q2の合計時間とする。時間Pを、テストパターンを形成するページの画像を書き出すタイミングから、テストパターンによる補正値を反映した画像を書き出すタイミングまでの時間とする。中間転写ベルトの駆動速度をVとした場合に、テストパターンの長さLが、L≦{P-(Q1+Q2)}×Vを満足するように定める。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
複数の第1の像担持体と、 前記複数の第1の像担持体に対して露光を行って潜像を形成し、該複数の第1の像担持体それぞれの潜像を異なる色のトナーで現像して各色の像を形成する像形成手段と、 所定速度で駆動され、前記像形成手段で前記複数の第1の像担持体のそれぞれに対して形成された前記各色の像が位置を合わせて重ね合わせられて転写される第2の像担持体と、 前記第2の像担持体に重ね合わされて転写された前記各色の像を転写材に転写して画像形成を行う画像形成手段と、 前記複数の第1の像担持体により形成され前記第2の像担持体に対して転写される、1または複数のテストパターン像を含むテストパターン列を発生させるテストパターン発生手段と、 前記第2の像担持体に転写された前記テストパターン列をセンサを用いて検知する検知手段と、 前記検知手段による前記テストパターン列の検知結果によって前記像形成手段による像形成条件を補正する補正値を算出する補正値算出手段と を有し、 前記テストパターン発生手段は、前記テストパターン列の副走査方向の第1の長さが、 前記露光の位置から前記センサまで該テストパターン列が前記第2の像担持体により搬送される時間と前記検知手段により該テストパターン列が検知されてから前記補正値算出手段で算出された前記補正値が前記像形成手段による像形成に反映されるまでの時間とを加算した時間を、前記第1の像担持体に対して該テストパターン列を書き出すタイミングから補正値を反映する像を書き出すタイミングまでの時間から減じた時間に前記第2の像担持体の駆動速度を乗じて得られる第2の長さ以下となるように前記テストパターン列を発生させる ことを特徴とする画像形成装置。
IPC (2件)：
G03G 15/01 ,  G03G 15/00
FI (2件)：
G03G15/01 Y ,  G03G15/00 303
Fターム (49件)：
2H270KA04 ,  2H270LA18 ,  2H270LA24 ,  2H270LA70 ,  2H270LA80 ,  2H270LD02 ,  2H270LD03 ,  2H270MB16 ,  2H270MB18 ,  2H270MB55 ,  2H270MC20 ,  2H270MC23 ,  2H270MC24 ,  2H270MD05 ,  2H270MD06 ,  2H270MD29 ,  2H270MF13 ,  2H270MH10 ,  2H270MH13 ,  2H270ZC03 ,  2H270ZC04 ,  2H270ZC06 ,  2H270ZD01 ,  2H300EB04 ,  2H300EB07 ,  2H300EB12 ,  2H300EC05 ,  2H300EG02 ,  2H300EG03 ,  2H300EH16 ,  2H300EJ09 ,  2H300EJ47 ,  2H300EL04 ,  2H300EL07 ,  2H300GG27 ,  2H300GG31 ,  2H300GG32 ,  2H300QQ10 ,  2H300QQ27 ,  2H300RR10 ,  2H300RR38 ,  2H300RR39 ,  2H300RR40 ,  2H300RR42 ,  2H300RR45 ,  2H300RR50 ,  2H300TT03 ,  2H300TT04 ,  2H300TT06
引用特許：
審査官引用 (8件)
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