特許
J-GLOBAL ID：201203038015898222

X線非破壊検査装置

発明者：
王 波

王 波 について

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鈴木 良一

鈴木 良一 について

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松岡 一夫

松岡 一夫 について

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劉 小軍

劉 小軍 について

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孟 紅岩

孟 紅岩 について


出願人/特許権者：
つくばテクノロジー株式会社

つくばテクノロジー株式会社 について

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独立行政法人産業技術総合研究所

独立行政法人産業技術総合研究所 について


代理人 (1件)： 中川 邦雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-010959
公開番号（公開出願番号）：特開2012-154627
出願日： 2011年01月21日
公開日（公表日）： 2012年08月16日
要約：
【課題】軽量かつ設置が容易で、さらにX線被爆なく、直線状の被検査物をその場で非破壊に多方向からのX線透過像を取得し、被検査物の劣化状況等を高精度で検査できるX線非破壊検査装置を提供する。【解決手段】上記課題を解決するため、直線状の被検査物をその場で非破壊検査するX線検査装置であって、前記被検査物を挟み対峙する1組のX線源及び2次元検出器を3組以上搭載し、前記被検査物に沿って手動或いは自動的に移動させながら、前記X線源からパルス状のX線を順次発生させ、前記2次元X線検出器でX線透過像データを検出することにより、前記被検査物の全周を長い距離にわたって検査することを特徴とするX線非破壊検査装置の構成とした。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
直線状の被検査物をその場で非破壊検査するX線検査装置であって、 前記被検査物を挟み対峙する1組のX線源及び2次元検出器を3組以上搭載し、前記被検査物に沿って手動或いは自動的に移動させながら、前記X線源からパルス状のX線を順次発生させ、前記2次元X線検出器でX線透過像データを検出することにより、前記被検査物の全周を長い距離にわたって検査することを特徴とするX線非破壊検査装置。
IPC (1件)：
G01N 23/04
FI (1件)：
G01N23/04
Fターム (21件)：
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA10 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001GA04 ,  2G001GA13 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001MA06 ,  2G001SA13
引用特許：
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (12件)
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