特許
J-GLOBAL ID：201203060660259841
キャリブレーション用校正治具、校正治具を備えた3次元計測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-264449
公開番号（公開出願番号）：特開2012-112911
出願日： 2010年11月29日
公開日（公表日）： 2012年06月14日
要約：
【課題】低コストで取り扱いが容易な3次元計測システムにおけるキャリブレーション用校正治具であって、対象物を両面から三次元計測する場合にも精度高く簡易にキャリブレーションを行うことができるキャリブレーション用校正治具を提供する。【解決手段】本発明による校正治具は、3次元計測システムに用いられる校正治具であって、二つの平面を有する本体にキャリブレーションの基準となるキャリブレーションパターンとして、一又は二以上の角錐台形状の貫通穴を形成することで両平面にキャリブレーションパターンが形成されていることを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
3次元計測システムにおけるキャリブレーション用の校正治具であって、
互いに平行な二つの平面を有する本体と、前記平面に形成されるキャリブレーションの基準となるキャリブレーションパターンとを有し、
前記キャリブレーションパターンは、一又は二以上の角錐台形状の貫通穴により両平面に形成されていること、を特徴とするキャリブレーション用校正冶具。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2F065AA04
, 2F065AA12
, 2F065AA20
, 2F065DD02
, 2F065DD04
, 2F065DD06
, 2F065DD19
, 2F065FF05
, 2F065FF61
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ17
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F065QQ31
