特許
J-GLOBAL ID：201203060922250158

光断層画像撮像装置及びその撮像方法

発明者：
廣瀬 太

廣瀬 太 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-156919
公開番号（公開出願番号）：特開2012-018129
出願日： 2010年07月09日
公開日（公表日）： 2012年01月26日
要約：
【課題】 簡単な構成で精度の高い偏光パラメータを取得し、偏光OCT画像を取得できる撮像装置を提供することを目的とする。【解決手段】 まず、本発明に係る撮像装置は、互いに異なる偏光方向である第一の光175-1及び第二の光175-2にそれぞれ対応する回折格子141への照射光の偏光方向を調整(例えば、偏光保持ファイバー134-5や134-6の出射端の相対角度を調整。)して回折格子141における該照射光の分光特性を互いに揃える。 そして、本発明に係る撮像装置は、互いに異なる偏光方向である第一の光175-1及び第二の光175-2にそれぞれ対応する上記調整部からの光を分光する回折格子141からの光に基づいて被検査物107の偏光情報を示す断層画像を取得する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光とに分割する分割手段と、 前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する回折格子への照射光の偏光方向を調整して該回折格子における該照射光の分光特性を互いに揃える調整手段と、 前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記調整手段からの光を分光する前記回折格子と、 前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記回折格子からの光を検出する検出手段と、 前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記検出手段からの出力に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段と、 を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
IPC (4件)：
G01N 21/17 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/10 ,  G01N 21/21
FI (4件)：
G01N21/17 630 ,  A61B3/12 E ,  A61B3/10 R ,  G01N21/21 Z
Fターム (20件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01
引用特許：
審査官引用 (10件)
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