特許
J-GLOBAL ID：201203069959787604
光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (6件)：
蔵田 昌俊
, 河野 哲
, 小出 俊實
, 石川 義雄
, 峰 隆司
, 野河 信久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-014148
公開番号（公開出願番号）：特開2012-154790
出願日： 2011年01月26日
公開日（公表日）： 2012年08月16日
要約：
【課題】 広帯域な試験光を用いた際の波長分散による反射点のずれを補償し、低フェーディング雑音と高分解能性を両立した測定を行う。【解決手段】 測定干渉計側で被測定対象14に対するC-OFDR測定を行うと共に、被測定対象14と同等のCD係数を有する遅延ファイバ21を備える参照干渉計において測定信号をリサンプリングすることで、FSAVを適用するために異なる波長での測定を実施した場合においても、CDによる反射点位置のずれ(加算平均後の反射波形広がり)を補償し、分解能を維持したままフェーディング雑音を低減する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光周波数を時間に対して掃引する光源からの出力光を二分岐して参照干渉計及び測定干渉計にそれぞれ入射し、
前記測定干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出し、
前記参照干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を前記測定対象と同等の波長分散係数を持つ遅延手段で遅延させた光とのモニタビート信号を検出し、
前記モニタビート信号の波形のサンプリングデータから、前記モニタビート信号の波形において0より大きくπ以下の範囲で任意に選定された一定の位相変化が生じる毎にその時間を求め、
前記測定ビート信号の波形のサンプリングデータから前記測定ビート信号の前記一定の位相変化が生じる毎に求められた時間における値を数列として求め、
当該数列に対してフーリエ変換を施し、測定対象における光波伝播方向の反射率を測定することを特徴とする光周波数領域反射測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
引用文献：
前のページに戻る
