特許
J-GLOBAL ID：201203075705485799

画像処理装置及び方法、並びに放射線撮影システム

発明者：
桑原 健

桑原 健 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (1件)： 小林 和憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-169395
公開番号（公開出願番号）：特開2012-029720
出願日： 2010年07月28日
公開日（公表日）： 2012年02月16日
要約：
【課題】モアレ縞の周波数に対してサンプリング周波数が整数倍でない場合においても簡便かつ迅速に欠損画素の補正を可能とする。【解決手段】グリッド縞に直交するx方向に関する欠損画素の位置x0を基準として、x方向正側に並ぶ周辺画素の位置をx1,x2,・・・,xi、負側に並ぶ周辺画素の位置をx-1,x-2,・・・,x-iとし、欠損画素の補正値P(x0)を算出して補正を行う。iは2以上の整数、P(xn),P(x-n)は周辺画素の値、fmはx方向に関するモアレ縞の周波数、pはx方向に関する画素ピッチである。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
放射線を被写体に照射する放射線発生手段と、被写体で発生した散乱線を除去するグリッドと、グリッドを通過した放射線を検出して画像データを生成する放射線画像検出手段とを備えた放射線撮影システムに用いられ、画像データの欠損画素を基準として、グリッド縞に直交する方向から選択した複数の周辺画素の画素値を用いて該欠損画素の補正値を算出する欠損画素補正手段を備えた画像処理装置において、 グリッド縞に直交するx方向に関する欠損画素の位置x0を基準として、x方向正側に並ぶ周辺画素の位置を順にx1,x2,・・・,xi、負側に並ぶ周辺画素の位置を順にx-1,x-2,・・・,x-iとし、数式(A)及び数式(B)を少なくとも近似的に満たす重み付け係数A1,A2,・・・,Aiを、数式(C)に適用することにより、欠損画素の補正値P(x0)を算出することを特徴とする画像処理装置。
IPC (3件)：
A61B 6/00 ,  A61B 6/06 ,  G01T 7/00
FI (5件)：
A61B6/00 350M ,  A61B6/06 330 ,  A61B6/00 300S ,  G01T7/00 C ,  G01T7/00 B
Fターム (18件)：
2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ15 ,  2G088KK32 ,  4C093AA01 ,  4C093CA13 ,  4C093EA02 ,  4C093EB05 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EB24 ,  4C093FA53 ,  4C093FD07 ,  4C093FD09 ,  4C093FD12 ,  4C093FF03 ,  4C093FF09 ,  4C093FF22
引用特許：
出願人引用 (4件)
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