特許
J-GLOBAL ID：201203076370724617

測定装置及び測定方法

発明者：
野村 修

野村 修 について

, 
真継 優和

真継 優和 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-244369
公開番号（公開出願番号）：特開2012-098087
出願日： 2010年10月29日
公開日（公表日）： 2012年05月24日
要約：
【課題】 パターン投影法により、測定対象物の画像特徴と距離画像とを同時に取得することを目的とする。【解決手段】 測定装置に、測定対象に投影するパターン光特性の照明光を設定するパターン光特性設定部112と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する反射光測定部120と、測定された前記反射光から測定対象の物理特性に応じた画像特徴を抽出する画像特徴抽出部130と、前記画像特徴の局所領域ごとの分布特性を算出する特徴分布算出部180と、算出された前記局所領域ごとの分布特性に応じて、距離計測用のパターン光特性と、画像特徴抽出用のパターン光特性とを含む前記照明光のパターン光特性を制御するパターン光制御部170とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定対象に投影するパターン光特性の照明光を設定する設定手段と、 前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、 測定された前記反射光から測定対象の物理特性に応じた画像特徴を抽出する抽出手段と、 前記画像特徴の局所領域ごとの分布特性を算出する算出手段と、 算出された前記局所領域ごとの分布特性に応じて、距離計測用のパターン光特性と、画像特徴抽出用のパターン光特性とを含む前記照明光のパターン光特性を制御する制御手段と を備えることを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/25 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
G01B11/25 H ,  G06T1/00 315
Fターム (30件)：
2F065AA01 ,  2F065AA12 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF07 ,  2F065FF41 ,  2F065GG02 ,  2F065HH05 ,  2F065HH07 ,  2F065LL53 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS13 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DC22 ,  5B057DC30 ,  5B057DC33
引用特許：
出願人引用 (13件)
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審査官引用 (5件)
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