特許
J-GLOBAL ID：201203085799903748

誤り率測定装置および誤り率測定方法

発明者：
村上 崇

村上 崇 について

, 
仁木 洋平

仁木 洋平 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-163462
公開番号（公開出願番号）：特開2012-028883
出願日： 2010年07月21日
公開日（公表日）： 2012年02月09日
要約：
【課題】通信規格で規定された通信を行うための被試験デバイスの測定を行う際に必要なパラメータ値設定を簡便に行え、設定忘れや間違いによる最適な測定ができないトラブルを防止できる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供する。【解決手段】周波数特性選択部、誤り率測定部および波形測定部の各部を設定するためのそれぞれのパラメータ値を対応付けた情報を予め記憶したパラメータ対応情報を予めテーブルとして記憶したパラメータ対応情報記憶部を備え、周波数特性選択部、誤り率測定部および波形測定部のうちいずれかのパラメータ値が操作入力部に入力されたとき、パラメータ対応情報記憶部のパラメータ対応情報に基づいて、入力されたパラメータ値を基準として前記パラメータ値が入力されなかったパラメータ値を設定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
通信規格で規定された通信を行うための被試験デバイス(90)から出力される被測定信号を該通信規格で規定されている複数のビットレートの各々に対応した周波数特性に補正する複数の周波数特性補正部(12)を有し、前記複数の周波数特性補正部のうちいずれか1つを選択する周波数特性選択部(11)と、 当該選択された周波数特性補正部で補正された前記被測定信号のビット誤り率測定を行う誤り率測定部(14)と、 前記選択された周波数特性補正部で補正された前記被測定信号の波形測定を行う波形測定部(15)と、 前記複数の周波数特性補正部の選択、前記誤り率測定部の測定条件の設定または前記波形測定部の測定条件の設定のための各パラメータ値を入力するための操作入力部(20)と、 前記複数の周波数特性補正部を選択するための前記周波数特性選択部のパラメータ値と、前記誤り率測定部の測定条件を設定するためのパラメータ値と、前記波形測定部の測定条件を設定するためのパラメータ値とを対応付けたパラメータ対応情報を予めテーブル(31)として記憶したパラメータ対応情報記憶部(30)と、 前記周波数特性選択部、前記誤り率測定部および前記波形測定部のうちいずれかの前記パラメータ値が前記操作入力部に入力されたとき、前記パラメータ対応情報記憶部の前記パラメータ対応情報に基づいて、前記入力されたパラメータ値を基準として前記パラメータ値が入力されなかったパラメータ値を設定する制御部(19)と、 を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
IPC (2件)：
H04L 27/00 ,  H04B 17/00
FI (2件)：
H04L27/00 A ,  H04B17/00 M
Fターム (14件)：
5K004AA01 ,  5K004BB03 ,  5K004BB05 ,  5K004BD01 ,  5K042CA02 ,  5K042CA10 ,  5K042DA32 ,  5K042FA18 ,  5K042FA20 ,  5K042FA25 ,  5K042FA30 ,  5K042GA01 ,  5K042HA16 ,  5K042JA10
引用特許：
審査官引用 (6件)
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