特許
J-GLOBAL ID：201203096263745700
Cu-Mg-P系銅合金条材及びその製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青山 正和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-146895
公開番号（公開出願番号）：特開2012-007231
出願日： 2010年06月28日
公開日（公表日）： 2012年01月12日
要約：
【課題】引張強さとばね限界値と両振り平面曲げ疲労特性とが高レベルでバランスを取る。【解決手段】質量%で、Mg:0.3〜2%、P:0.001〜0.1%、残部がCuおよび不可避的不純物である組成を有する銅合金条材であり、後方散乱電子回折像システム付の走査型電子顕微鏡によるEBSD法にて、ステップサイズ0.5μmにて銅合金条材の表面の測定面積内の全ピクセルの方位を測定し、隣接するピクセル間の方位差が5°以上である境界を結晶粒界とみなした場合の、結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差が4°未満である結晶粒の面積割合が、測定面積の45〜55%であり、測定面積内に存在する結晶粒の面積平均GAMが2.2〜3.0°であり、引張強さが641〜708N/mm2であり、ばね限界値が472〜503N/mm2であり、1×106回の繰り返し回数における両振り平面曲げ疲れ限度が300〜350N/mm2である。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
質量%で、Mg:0.3〜2%、P:0.001〜0.1%、残部がCuおよび不可避的不純物である組成を有する銅合金条材であり、後方散乱電子回折像システム付の走査型電子顕微鏡によるEBSD法にて、ステップサイズ0.5μmにて前記銅合金条材の表面の測定面積内の全ピクセルの方位を測定し、隣接するピクセル間の方位差が5°以上である境界を結晶粒界とみなした場合の、結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差が4°未満である結晶粒の面積割合が、前記測定面積の45〜55%であり、前記測定面積内に存在する結晶粒の面積平均GAMが2.2〜3.0°であり、引張強さが641〜708N/mm2であり、ばね限界値が472〜503N/mm2であり、1×106回の繰り返し回数における両振り平面曲げ疲れ限度が300〜350N/mm2であることを特徴とする銅合金条材。
IPC (5件)：
C22C 9/00
, C22F 1/08
, H01B 5/02
, H01B 1/02
, H01B 13/00
C22C9/00
, C22F1/08 B
, H01B5/02 Z
, H01B1/02 A
, H01B13/00 501D
5G301AA08
, 5G301AA12
, 5G301AA30
, 5G301AB01
, 5G301AB02
, 5G301AB05
, 5G301AD03
, 5G301AD05
, 5G307CA03
, 5G307CB02
