特許
J-GLOBAL ID：201203098033546050
光電場増強デバイスを用いた光の測定方法および測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-208984
公開番号（公開出願番号）：特開2012-063294
出願日： 2010年09月17日
公開日（公表日）： 2012年03月29日
要約：
【課題】局在プラズモンによる光増強効果を利用して被検体から生じる微弱な光を増強し検出する測定方法において、より良好なS/Nでの測定を実現する。【解決手段】表面に透明な微細凹凸構造22を備えた透明基板10と、表面の微細凹凸構造22表面に形成された金属膜24とを備えた光電場増強デバイス1を用い、光電場増強デバイス1の金属膜22上に被検体Sを配置し、光電場増強デバイス1の被検体Sの配置箇所に対して励起光L1を照射し、励起光L1の照射により生じた光を、透明基板10の裏面側から検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
表面に透明な微細凹凸構造を備えた透明基板と、該表面の微細凹凸構造表面に形成された金属膜とを備えた光電場増強デバイスを用い、
該光電場増強デバイスの前記金属膜上に被検体を配置し、
前記光電場増強デバイスの前記被検体の配置箇所に対して励起光を照射し、
該励起光の照射により生じた光を、前記透明基板の裏面側から検出することを特徴とする測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N21/65
, G01N21/64 G
, G01N21/64 Z
2G043AA04
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043EA03
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA08
, 2G043HA09
, 2G043JA01
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA09
