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J-GLOBAL ID：201302203399637387   整理番号：13A0529242

高周波キャリア型薄膜磁界センサによる磁気探傷試験装置

Development of Magnetic Crack Detection System Using Thin Film Magnetic Field Sensor

著者 (8件)： 小澤哲也 (東北学院大学工学部) ,  山田洋 (仙台高等専門学校) ,  佐藤弘二 (東北学院大学工学部) ,  小島健 (東北学院大学工学部) ,  薮上信 (東北学院大学工学部) ,  小林伸聖 (電磁材料研究所) ,  中居倫夫 (宮城県産業技術総合センター) ,  荒井賢一 (電磁材料研究所)
資料名： Journal of the Magnetics Society of Japan  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 37  号： 1  ページ： 1-7 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 1882-2924  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 著者らは,磁性薄膜に外部磁場を加えると磁性薄膜を通電している高周波信号の位相が遅れることを利用した高感度磁気センサを開発し,このセンサをデュアルミクサ時間差(DMTD)を用いた磁気探傷装置を開発した。今回,DMTD法に代わり,RF位相電圧変換集積回路を用い,磁気探傷装置の小型化と低価格化を目指した。提案方式はMDTD法では2台必要であった高周波信号源を1台にでき,ステップモータによる移相器の自動調節を不要にできた。10kHzにおいて85pTの分解能を得た。

シソーラス用語： *磁気検査 ,  *磁性薄膜 ,  電気変換 ,  集積回路 ,  簡素化 ,  高分解能 ,  磁気センサ ,  非晶質磁性体 ,  試験装置 ,  非破壊検査 ,  渦電流検査 ,  高周波電流 ,  位相遅れ ,  改変
準シソーラス用語： 位相遅延 ,  *磁気探傷検査 ,  電圧変換

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (12件)：

• 1) S. Yamada, M. Iwahara: J. Magn. Soc. Jpn., 23, 1817-1825 (1999).
• 2) N. Ebine, S. Takeuchi, K. Ara: T. IEE Japan, 115-A, 999-1006 (1995).
• 3) H. Domon ,S. Koshide, : Easy nondestructive inspection technology (in Japanese), pp. 39-44 (Kogyo Chosakai Publishing limited company, Tokyo, 1996).
• 4) H. Hoshikawa : Eddy Current Testing (in Japanese), pp. 5-31 (The Japanese Society for Non-Destructive Inspection, Tokyo, 2008).
• 5) K. Kojima, K. Sato, S. Yabukami, T. Ozawa, N. Kobayashi, and K. I. Arai: J. Magn. Soc. Jpn., 35, 277-280 (2011).

タイトルに関連する用語 (6件)： 高周波 ,  キャリア ,  薄膜 ,  磁界センサ ,  磁気 ,  探傷試験