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J-GLOBAL ID:201302226056610378   整理番号:13A1418825

GaN/サファイアテンプレート上とAlN/Si(111)基板上に成長した中間In組成の有機金属気相エピタキシャルInGaNの比較研究

A Comparative Study on Metalorganic Vapor Phase Epitaxial InGaN with Intermediate In Compositions of Grown on GaN/Sapphire Template and AlN/Si(111) Substrate
著者 (6件):
資料名:
巻: 52  号: 8,Issue 2  ページ: 08JB19.1-08JB19.4  発行年: 2013年08月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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GaN/サファイアテンプレート上とAlN/Si(111)基板上に中間In組成のInGaNの成長を比較研究した。水平反応器の有機金属気相エピタクシー(MOVPE)システムを使って,InGaN膜を600-800°Cの温度,150Torrの圧力で成長した。成長温度とトリメチルインジウム(トリメチルインジウム+トリエチルガリウム)モル比を最適化して,x=0-1の単結晶InxGa1-xNを両方の基板上に成長することに成功した。In組成が0.3以下で比較的高温(≧700°C)で成長した膜は,それらの膜厚が臨界値(0.25-0.4μm)を越えると相分離を示し,Im組成が0.35-0.5の600°Cで成長した試料は,厚みが0.7μmまで増大しても,相分離を見せなかった。成長した膜の結晶品質を評価するため,InGaN(0002)傾斜に対してX線ロッキングカーブ(XRC)のFWHMを測定した。GaN/α-Al2O3(0001)上とAlN/Si(111)上に成長した膜の間で傾斜データに大きい差はなかった。In含有量が0.35-0.5の600°Cで成長した試料では,傾斜データは劇的に増大し,幅広く散乱していることから,比較的低い温度で成長したInGaNの結晶品質を支配する重要な未知のパラメータが存在すると推測される。(翻訳著者抄録)
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半導体薄膜 
引用文献 (14件):
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