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J-GLOBAL ID:201302241131268345   整理番号:13A1927970

国際宇宙ステーションでの結晶成長実験に関する溶融InxGa1-xSbの粘度測定

Viscosity Measurements of Molten InxGa1-xSb toward the Experiment of Semiconductor Crystal Growth on the ISS
著者 (7件):
資料名:
巻: 27  号:ページ: 152-156  発行年: 2013年11月30日 
JST資料番号: X0597A  ISSN: 0913-946X  CODEN: NEBUE4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本研究では,混晶半導体であるInxGa1-xSb(x=0,0.2,0.4,1.0)融液の粘度を回転振動法により測定した。粘度は結晶成長の数値計算に必須のパラメータの1つであり,数値計算の精度向上には粘度の組成依存性が必要となる。測定の結果,InxGa1-xSbにおいてもInSbやGaSbと同様に粘度はアレニウスの直線性を示すことが示された。また,InxGa1-xSbの粘度はGaSb,InSbの間の値となった。本研究は,国際宇宙ステーションで行われる混晶半導体結晶成長実験に関する数値計算のパラメータとして使用することを目的としている。(著者抄録)
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分類 (1件):
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半導体の結晶成長 
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