テラヘルツ波光源と応用  テラヘルツ波ケミカル顕微鏡と応用開拓

紀和利彦

文献

J-GLOBAL ID：201302244528981810 整理番号：13A0160713

テラヘルツ波光源と応用テラヘルツ波ケミカル顕微鏡と応用開拓

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著者 (1件)：
資料名：
号： 399 ページ： 147-151 発行年： 2013年01月25日
JST資料番号： Z0994A ISSN： 0911-5943 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

これまでのテラヘルツ波利用技術は,透過・吸収の分光やイメージングをコアとしたものであったが,レーザー励起による半導体内部キャリアの動的な情報をもとにしたレーザー励起テラヘルツ波顕微鏡が開発された。ここでは,著者らの物質の化学反応,生体関連物質の相互作用の分布を可視化するシステムとしてテラヘルツ波ケミカル顕微鏡(TCM)の開発に取組んできた。ここでは,サファイア基板上のシリコン薄膜(Si薄膜)に熱酸化膜を形成したセンシングプレートをフェムト秒レーザーパルスで照射することからなるTCMの計測原理とそのシステムを解説し,計測応用例としてNa⁺のイオン分布計測,抗原抗体反応計測としてマウスIgGの結合反応計測を紹介した。

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光学的測定とその装置一般 , 電磁気学一般

引用文献 (8件)：

1) M. Tonouchi : "Cutting-edge terahertz technology," Nat. Photon., Vol. 1, No. 2, pp. 97-105 (2007)
2) H. Yoshida, U. Ogawa, Y. Kawai, S. Hayashi, A. Hayashi, C. Otani, E. Kato, F. Miyamaru, and K. Kawase : "Terahertz sensing method for protein detection using a thin metallic mesh," Appl. Phys. Lett., Vol. 91, 253901 (2007)
3) T. Kiwa, M. Tonouchi, M. Yamashita, and K. Kawase : "Laser terahertz-emission microscope for inspecting electrical faults in integrated circuits," Opt. Lett., Vol. 28, pp. 2058-2060 (2003)
4) M. Yamashita, K. Kawase, C. Otani, T. Kiwa, and M. Tonouchi : "Imaging of large-scale integrated circuits using laser-terahertz emission microscopy," Opt. Exp., Vol.13, pp.115-120 (2005)
5) T. Kiwa, S. Oka, J. Kondo, I. Kawayama, H. Yamada, M. Tonouchi, and K. Tsukada : "Terahertz chemical microscope to visualize chemical concentrations in microfluidic chips," Jpn. J. Appl. Phys. (Exp. Lett.), Vol. 46, pp. L1052-L1054 (2007)

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