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J-GLOBAL ID:201302278712977003   整理番号:13A0780159

厚さを調節したAl誘導結晶化による絶縁体上の大きな粒状Si膜の配向制御

Orientation Control of Large-Grained Si Films on Insulators by Thickness-Modulated Al-Induced Crystallization
著者 (6件):
資料名:
巻: 13  号:ページ: 1767-1770  発行年: 2013年04月 
JST資料番号: W1323A  ISSN: 1528-7483  CODEN: CGDEFU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Al/Siの厚さに依存する非晶質Si集束の低温(425°C)反転Al誘導層交換((AlILE)を研究した。Al層上に成長した多結晶Siの結晶配向をAl/Siの厚さを調節して[111]か[100]のどちらかに制御することができた。[111]配向分率は50nmの厚さの試料で97%にまで達した。対照的に[100]配向分率は200nmの厚さの試料で88%になった。さらに50nmの厚さの試料では直径68μmの大きさの粒子になった。配向制御によって形成されて大きな粒状の多結晶Si膜は先端材料,ナノワイヤー,およびSi薄膜太陽電池のエピタキシャルテンプレートとして有効である。
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固-固界面  ,  半導体薄膜 

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