特許
J-GLOBAL ID:201303005637580809
TDIセンサ、撮像装置、部品実装装置、部品試験装置および基板検査装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
小谷 悦司
, 小谷 昌崇
, 平田 晴洋
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-169959
公開番号(公開出願番号):特開2013-033419
出願日: 2011年08月03日
公開日(公表日): 2013年02月14日
要約:
【課題】カメラに対して部品を相対的に一度移動させることで、複数種類の部品画像をより良好にかつ高速で取得することを可能にする。【解決手段】所定のタイミングでライン画像の撮像動作を行い、撮像ライン毎の画像として複数回露光されたライン画像を出力するTDIセンサ26。このTDIセンサ26は、第1方向に並びかつそれぞれ露光量に応じた電荷を生成して保持する複数の撮像素子42を有する画素列41と、この画素列41と同等の画素列であって撮像素子42に遮光フィルタ43が形成された画素列41(電荷保持列)とを含み、これら画素列41が交互に配列された受光部40Aと、前記画素列41の電荷を列単位で隣接する列に順次転送するとともに、ライン画像の信号として、前記転送により最終的に蓄積された電荷に対応する信号を出力する転送部40Bとを備える。【選択図】図4
請求項(抜粋):
所定のタイミングでライン画像の撮像動作を行い、撮像ライン毎の画像として複数回露光されたライン画像を出力するTDIセンサであって、
第1方向に並びかつそれぞれ露光量に応じた電荷を生成して保持する複数の撮像素子を有する画素列と、前記電荷を保持する機能のみを有しかつ前記画素列の各撮像素子に対応するように前記第1方向に並ぶ複数の電荷保持部を有する電荷保持列とを含み、一つの前記画素列と一乃至複数の前記電荷保持列とが前記第1方向と直交する第2方向に交互に配列される受光部と、
前記画素列の撮像素子および前記電荷保持列の電荷保持部が保持する電荷を列単位で隣接する列に順次転送するとともに、前記ライン画像の信号として、前記転送により最終的に蓄積された電荷に対応する信号を出力する転送部と、を備えることを特徴とするTDIセンサ。
IPC (3件):
G06T 1/00
, H05K 13/04
, H05K 13/08
FI (3件):
G06T1/00 400D
, H05K13/04 B
, H05K13/08 Q
Fターム (29件):
5B047AA12
, 5B047AB04
, 5B047BB02
, 5B047BC01
, 5B047BC11
, 5B047CA05
, 5B047CA19
, 5B047DC20
, 5E313AA02
, 5E313AA11
, 5E313AA23
, 5E313CC01
, 5E313CC03
, 5E313CC04
, 5E313DD01
, 5E313DD03
, 5E313DD12
, 5E313DD21
, 5E313EE01
, 5E313EE02
, 5E313EE03
, 5E313EE24
, 5E313EE50
, 5E313FF24
, 5E313FF26
, 5E313FF28
, 5E313FF32
, 5E313FF33
, 5E313FG10
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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