特許
J-GLOBAL ID：201303010716887239

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた溶液中イオン検出方法

発明者：
本棒 享子

本棒 享子 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-169902
公開番号（公開出願番号）：特開2013-033003
出願日： 2011年08月03日
公開日（公表日）： 2013年02月14日
要約：
【課題】、試料から溶液中に溶出しているイオンを解析できる走査型プローブ顕微鏡およびそれを用いた溶液中イオンの検出方法を提供する。 【解決手段】試料1、参照極2、対極3、プローブ4を溶液中に設置した電気化学セル5を有し、試料表面の凹凸形状を、プローブ4を用いて測定する走査型プローブ顕微鏡であって、さらに、次の手段を備える。参照極2に対するプローブ4の電位を可変制御するプローブ電位制御手段(7,8,100)と、可変制御されるプローブ電位の下で、プローブ4と3対極との電気化学反応によりプローブに流れるプローブ電流を検出する電流検出手段と、を備える。前記プローブ電位及びプローブ電流から、溶液中に存在するイオンがプローブ4に捕獲されて酸化もしくは還元反応を示す電位の範囲を特定して、溶液中のイオンの同定と定量を行なうよう構成してある。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
試料、参照極、対極、プローブを溶液中に設置した電気化学セルを有し、試料表面の凹凸形状を、前記プローブを用いて測定する走査型プローブ顕微鏡において、 前記参照極に対する前記プローブの電位を可変制御するプローブ電位制御手段と、 可変制御されるプローブ電位の下で、前記プローブと前記対極との電気化学反応により前記プローブに流れるプローブ電流を検出する電流検出手段と、を備え、 前記プローブ電位と前記プローブ電流から、前記溶液中に存在するイオンが前記プローブに捕獲されて酸化もしくは還元反応を示す電位の範囲を特定して、溶液中のイオンの同定と定量を行なうよう構成したことを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。
IPC (2件)：
G01Q 60/60 ,  G01Q 30/14
FI (2件)：
G01Q60/60 ,  G01Q30/14
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (2件)
  • プローブ顕微鏡
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-129791   出願人：株式会社日立製作所
  • 特公平6-105262

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