特許
J-GLOBAL ID：201303015968941190

穀粒成分分析装置および穀粒成分分析方法

発明者：
川村 健介

川村 健介 について

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石突 裕樹

石突 裕樹 について

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石津 任章

石津 任章 について

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賀谷 慎司

賀谷 慎司 について


出願人/特許権者：
国立大学法人広島大学

国立大学法人広島大学 について

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株式会社サタケ

株式会社サタケ について


代理人 (1件)： 特許業務法人前田特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-200893
公開番号（公開出願番号）：特開2013-238579
出願日： 2012年09月12日
公開日（公表日）： 2013年11月28日
要約：
【課題】粒単位での穀粒の成分分析における測定精度を向上する。【解決手段】穀粒中に含まれる特定成分を分光法により粒単位で定量分析する穀粒成分分析装置は、分析対象の穀粒(100)に光(12)を照射する発光手段(10)と、光が照射された穀粒からの透過光および/または反射光のスペクトルを検出するスペクトル検出手段(30)と、分析対象の穀粒に関して特定波長のスペクトル値と特定成分の含量との間の関係を示す検量線を用いて、粒単位で穀粒の像の定量分析に適した有効部分から検出されたスペクトル値によって穀粒の特定成分の含量を算出する演算手段(40)とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
穀粒中に含まれる特定成分を分光法により粒単位で定量分析する穀粒成分分析装置であって、 分析対象の穀粒に光を照射する発光手段と、 前記光が照射された穀粒からの透過光および/または反射光のスペクトルを検出するスペクトル検出手段と、 分析対象の穀粒に関して特定波長のスペクトル値と前記特定成分の含量との間の関係を示す検量線を用いて、粒単位で前記穀粒の像の定量分析に適した有効部分から検出されたスペクトル値によって前記穀粒の前記特定成分の含量を算出する演算手段とを備えている ことを特徴とする穀粒成分分析装置。
IPC (2件)：
G01N 21/35 ,  G01N 21/27
FI (3件)：
G01N21/35 Z ,  G01N21/27 B ,  G01N21/27 Z
Fターム (16件)：
2G059AA01 ,  2G059BB11 ,  2G059CC20 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF11 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM12
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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