特許
J-GLOBAL ID：201303017842460474
自動分析方法及び自動分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人三澤特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-219227
公開番号（公開出願番号）：特開2012-255812
特許番号：特許第5279941号
出願日： 2012年10月01日
公開日（公表日）： 2012年12月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 イオン選択性電極及び参照電極を用いることにより、試料中の成分、及び校正液の電位をそれぞれ測定し、前記校正液の電位の測定結果に基づき前記試料中の成分の測定結果を出力する自動分析方法において、
前記校正液の電位を所定時間毎に取得する監視ステップと、
前記取得した前記校正液の電位が予め定められた許容範囲を超えたとき、エラーを報知するステップと、
前記取得した前記校正液の電位が予め定められた許容範囲内にあるとき、前記取得した前記校正液の電位データを記憶する記憶ステップと、
前記取得した前記校正液の電位データを記憶したとき、過去に記憶した所定の複数個の前記校正液の電位データのうち最も古い前記電位データを削除し、当該削除されずに残された前記電位データと新たに記憶した前記電位データとに基づき、前記校正液の電位データを取得した後から予め定められた時間を経過したときの前記校正液の予測電位を算出する算出ステップと、
前記算出された前記校正液の予測電位が前記許容範囲を超えたとき、エラーを報知するステップと、
少なくとも前記校正液の予測電位が前記許容範囲内にあるとき、前記試料中の成分の測定結果を出力する出力ステップと、
を有する
ことを特徴とする自動分析方法。
IPC (3件)：
G01N 27/26 ( 200 6.01)
, G01N 27/416 ( 200 6.01)
, G01N 27/30 ( 200 6.01)
G01N 27/26 371 C
, G01N 27/26 381 A
, G01N 27/26 371 F
, G01N 27/46 351 B
, G01N 27/46 351 K
, G01N 27/30 311 Z
