特許
J-GLOBAL ID：201303018590239571

基板外観検査機および基板外観検査方法

発明者：
天野 雅史

天野 雅史 について

, 
大池 博史

大池 博史 について

, 
鈴木 郁夫

鈴木 郁夫 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (2件)： 東口 倫昭 ,  進藤 素子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-031370
公開番号（公開出願番号）：特開2013-168538
出願日： 2012年02月16日
公開日（公表日）： 2013年08月29日
要約：
【課題】部品の装着状態の実情に応じて検査基準を更新可能な基板外観検査機および基板外観検査方法を提供することを課題とする。【解決手段】基板外観検査機2は、生産ライン1において、上流側装置3〜5の下流側に配置され、所定の検査基準により基板8の外観を検査する。基板外観検査機2は、上流側装置3〜5において、基板8の外観不良の原因となりうる変動要因が発生した場合、変動要因を基に更新された検査基準により、基板8の外観を検査する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
生産ラインにおいて、上流側装置の下流側に配置され、所定の検査基準により基板の外観を検査する基板外観検査機であって、 前記上流側装置において、前記基板の外観不良の原因となりうる変動要因が発生した場合、該変動要因を基に更新された前記検査基準により、該基板の外観を検査することを特徴とする基板外観検査機。
IPC (2件)：
H05K 13/08 ,  G01N 21/956
FI (2件)：
H05K13/08 D ,  G01N21/956 B
Fターム (8件)：
2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB02
引用特許：
審査官引用 (5件)
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