特許
J-GLOBAL ID：201303019994648226
粒子観察装置、分離装置及びマニピュレート装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-168314
公開番号（公開出願番号）：特開2013-032934
出願日： 2011年08月01日
公開日（公表日）： 2013年02月14日
要約：
【課題】磁性微粒子を容易に観察する。【解決手段】内部に磁性微粒子を含む流体が存在する観察セル2と、前記観察セル内の磁性微粒子の画像を連続して撮像する撮像装置5と、前記撮像装置で撮像された画像から磁性微粒子の座標と断面積を求める演算部63,64と、前回撮像された画像における追尾の対象の磁性微粒子である追尾粒子の座標及び断面積と、新たに撮像された画像から前記演算部で求められた磁性微粒子の座標及び断面積とを比較して、追尾粒子を追尾する追尾部65と、前記撮像装置で撮像された画像を表示装置に表示するとともに、前記表示装置に表示される画像上で前記追尾部が追尾した追尾粒子にマークを表示する表示処理部62とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
内部に磁性微粒子を含む流体が存在する観察セルと、
前記観察セル内の磁性微粒子の画像を連続して撮像する撮像装置と、
前記撮像装置で撮像された画像から磁性微粒子の座標と断面積を求める演算部と、
前回撮像された画像における追尾の対象の磁性微粒子である追尾粒子の座標及び断面積と、新たに撮像された画像から前記演算部で求められた磁性微粒子の座標及び断面積とを比較して、追尾粒子を追尾する追尾部と、
前記撮像装置で撮像された画像を表示装置に表示するとともに、前記表示装置に表示される画像上で前記追尾部が追尾した追尾粒子にマークを表示する表示処理部と、
を備えることを特徴とする粒子観察装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N15/14 D
, G01N15/14 K
