特許
J-GLOBAL ID：201303028179970473

電磁波を用いる測定装置及び測定方法

発明者：
小泉 隆之

小泉 隆之 について

, 
窪田 央一

窪田 央一 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 加藤 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-109394
公開番号（公開出願番号）：特開2013-238401
出願日： 2012年05月11日
公開日（公表日）： 2013年11月28日
要約：
【課題】検体内部界面における反射波を精度良く取得する等のために、検体表面と窓部材との界面での屈折率差を調整した状態で窓部材と接触した検体からの電磁波を検出することできる測定装置及び方法を提供する。【解決手段】測定装置は、検体111と接触するための窓部材110と、窓部材と接触した検体に電磁波を照射する照射手段101と、窓部材と接触した検体からの電磁波を検出する検出手段102と、窓部材の誘電率を変化させる誘電率調整手段108と、を有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検体と接触するための窓部材と、前記窓部材と接触した検体に電磁波を照射する照射手段と、前記窓部材と接触した検体からの電磁波を検出する検出手段と、前記窓部材の誘電率を変化させるための誘電率調整手段と、を有することを特徴とする測定装置。
IPC (3件)：
G01N 21/01 ,  G01N 21/35 ,  G01N 22/00
FI (3件)：
G01N21/01 B ,  G01N21/35 Z ,  G01N22/00 S
Fターム (22件)：
2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059EE17 ,  2G059FF01 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ21 ,  2G059KK01 ,  2G059LL03 ,  2G059MM01 ,  2G059NN01 ,  2G059NN06
引用特許：
審査官引用 (3件)

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