特許
J-GLOBAL ID：201303035375648640
試験装置および試験モジュール
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-045888
公開番号（公開出願番号）：特開2013-181833
出願日： 2012年03月01日
公開日（公表日）： 2013年09月12日
要約：
【課題】試験時間を短くする。【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスとの間で信号を伝送して被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する少なくとも1つの試験モジュールと、試験部の動作を制御する制御装置と、を備え、制御装置は、被試験デバイスを試験するための複数の試験プログラムを並列に実行して、複数の試験プログラムのそれぞれに割り当てられた複数の試験部のそれぞれの動作を並列に制御し、複数の試験部は、被試験デバイスとの間で並列に信号を伝送して、被試験デバイスを試験する試験装置を提供する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスとの間で信号を伝送して前記被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する少なくとも1つの試験モジュールと、
前記複数の試験部の動作を制御する制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、前記被試験デバイスを試験するための複数の試験プログラムを並列に実行して、前記複数の試験プログラムのそれぞれに割り当てられた前記複数の試験部のそれぞれの動作を並列に制御し、
前記複数の試験部は、前記被試験デバイスとの間で並列に信号を伝送して、前記被試験デバイスを試験する
試験装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G132AA00
, 2G132AB01
, 2G132AE23
, 2G132AG01
, 2G132AH00
, 2G132AL09
, 2G132AL26
出願人引用 (6件)
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試験装置および試験モジュール
公報種別：公開公報
出願番号：特願2011-007081
出願人：株式会社アドバンテスト
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試験装置および試験方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2010-196955
出願人：株式会社アドバンテスト
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ピン番号変換装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2007-211159
出願人：株式会社アドバンテスト
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審査官引用 (6件)
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