特許
J-GLOBAL ID：201303055939572160

光干渉断層撮像装置、方法、当該方法を実行するプログラム、及び記憶媒体

発明者：
黒坂 亮治

黒坂 亮治 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (9件)： 岡部 讓 ,  臼井 伸一 ,  越智 隆夫 ,  高橋 誠一郎 ,  吉澤 弘司 ,  齋藤 正巳 ,  木村 克彦 ,  ▲濱▼口 岳久 ,  田中 尚文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-143919
公開番号（公開出願番号）：特開2013-009798
出願日： 2011年06月29日
公開日（公表日）： 2013年01月17日
要約：
【課題】光干渉断層撮像装置において、評価領域によって画質評価指標を切り替える。脈絡膜に着目した診断で主に行われるEDI撮像では、網膜断層像の輝度値が低い部分が多いために画質評価指標が小さくなり、正確な評価が出来ないという課題がある。【解決手段】光源から出射された光を参照光と測定光に分割し、測定光を被測定検体に照射し、その戻り光と参照光とを干渉させ、被測定検体の画像を取得する光干渉断層撮像装置において、画像の撮像条件を設定する手段と、撮像条件に応じて画質評価指標を選択する手段と、設定された撮像条件に応じて撮像された画像から特徴量を取得する手段と、特徴量と画質評価指標に基づいて画像の画質を評価する手段とを有する事。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定光を照射した被測定検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて前記被測定検体の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置であって、 前記被測定検体の断層画像の撮像条件を設定する撮像条件設定手段と、 前記撮像条件に応じて画質評価指標を選択する評価指標選択手段と、 前記撮像条件に応じて前記断層画像から特徴量を取得する特徴量取得手段と、 前記特徴量と前記画質評価指標とに基づいて前記断層画像の画質を評価する画質評価手段と、 を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
IPC (2件)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17
FI (2件)：
A61B3/10 R ,  G01N21/17 625
Fターム (18件)：
2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示
引用文献：
審査官引用 (1件)
  • “A new quality assessment parameter for optical coherence tomography”

前のページに戻る

TOP

BOTTOM