特許
J-GLOBAL ID:201303062868008346

テラヘルツイメージング装置、テラヘルツ画像からの干渉パターン除去方法及びプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 池田 憲保 ,  福田 修一 ,  佐々木 敬
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-085471
公開番号(公開出願番号):特開2013-217649
出願日: 2012年04月04日
公開日(公表日): 2013年10月24日
要約:
【課題】 テラヘルツ光をサンプルに照射して撮影したテラヘルツ画像から干渉パターンを除去する。【解決手段】 光源からサンプルにテラヘルツ光を照射して、サンプルの点Sを含む領域R1を撮像して生成した画像G1と、点Sを含み、かつ、領域R1から距離Lだけ離れた領域R2を撮像して生成した画像G2とに対し、所定の二項演算を施して一の画像Vを生成する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
テラヘルツ光を発する光源と、 前記光源からのテラヘルツ光を照射したサンプルを撮像するためのテラヘルツ光を撮影可能な撮像素子と、 前記光源から前記サンプルにテラヘルツ光を照射して、前記撮像素子にて、前記サンプルの点Sを含む領域R1を撮像して生成した画像G1と、前記光源から前記サンプルにテラヘルツ光を照射して、前記撮像素子にて、前記点Sを含み、かつ、前記領域R1から距離Lだけ離れた領域R2を撮像して生成した画像G2とに対し、予め定められた二項演算を施して一の画像Vを生成するための画像処理装置と を備えることを特徴とするテラヘルツイメージング装置。
IPC (1件):
G01N 21/35
FI (1件):
G01N21/35 Z
Fターム (19件):
2G051AA90 ,  2G051AB06 ,  2G051BA06 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059DD12 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059KK09 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献:
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